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基于扫描探针显微技术的二维滑移铁电材料极化特性研究

编号:
wx1204362993
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商品介绍

本书是一本围绕滑移铁电这一新兴二维铁电材料体系展开,聚焦其独特的极化起源、畴结构特征及多尺度调控机制的专著。电子科技大学出版社“博士论丛”项目之一。 本书旨在为二维铁电材料的深入研究与实际应用提供理论基础与实验支撑,其撰写基于围绕滑移铁电材料开展的系统研究工作,并结合多篇代表性研究成果,构建了一套完整的实验体系与表征分析框架。内容涵盖二维材料的制备与器件构筑、原子力显微镜及其衍生技术的应用、极化分布与畴结构的精细表征、界面耦合机制的物理解析等多个方面,形成了滑移铁电研究的系统性认识。本书不仅有助于加深对滑移铁电材料基本物理图像的理解,也为相关实验方法的构建与器件性能的提升提供了理论与技术指导。 本书适用于从事二维材料、铁电材料、扫描探针显微技术、新型电子器件等方向的科研人员及工程技术人员阅读与参考。

商品参数
基本信息
出版社 电子科技大学出版社
ISBN 9787577019444
条码 9787577019444
编者 潘二刘富才 著
译者
出版年月 2026-02-01 00:00:00.0
开本 16开
装帧 平装
页数 178
字数
版次 1
印次
纸张
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